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X-4顯微熔點(diǎn)儀

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X-4顯微熔點(diǎn)儀

顯微熔點(diǎn)儀可用載波片方法測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)、形變、色變等;也可用藥典規(guī)定的毛細(xì)管方法測(cè)其熔點(diǎn),尤其對(duì)深色樣品的熔點(diǎn),并能自始自終觀察到其熔化的全過程。



主要技術(shù)參數(shù)


  號(hào)

X-4

顯微鏡 倍數(shù)

4倍物鏡   10倍目鏡

測(cè)量范圍

室溫∽320℃

測(cè)量精密度

室溫∽200℃   誤差±1℃

200℃∽320℃  誤差±2℃

  

220V /50HZ/ 80W